高加速寿命测试概述

高加速温湿度寿命测试（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）HALT一词是Gregg K. Hobbs 于1988年提出的。是一种利用阶梯应力加诸于试品，并在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。试品通过HALT所暴露的缺陷，涉及线路设计、工艺、元部件和结构等方面。HALT的主要目的是在产品设计和试产阶段，通过试验，快速发现产品的潜在缺陷，并加以改进和验证，从而增加产品的极限值，提高其坚固性及可靠性。施加于试品的应力，包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。HALT试验是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。

高加速寿命测试的功能

HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。往往一个测试计划，需要重复进行几次，除非一次性能经受加速应力试验。其关键在于分析失效的根本原因。试验的主要功能如下：1．利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；2. 了解产品的设计能力及失效模式；3. 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考；4. 快速找出产品制造过程的瑕疵；5. 增加产品的可靠性，减少维修成本；6. 建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并缩短设计制造周期。

高加速寿命测试的内容

高加速寿命试验的具体测试内容包括以下几点：1. 逐步施加应力直到产品失效或出现故障；2. 采取临时措施，修正产品的失效或故障；3. 继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障，并再次加以修正；4. 重复以上试验→失效→改进的步骤；5. 找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。

高加速寿命测试的意义

今天，HALT的可靠性测试技术在国内外电子业界已得到广泛关注和认识。因其具有传统的环境试验技术难以媲美的功效，目前被国外众多知名企业采用。该试验直接体现出来的重要性，有以下几点：1．快速暴露产品潜在缺陷；2．通过试验 → 改进 → 验证这一循环方式，有效增加产品的极限值；3．产品可靠性得到明显提升；4．大大缩短产品研发、设计、生产和上市周期；5．长远来看，降低产品成本。